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XC3020電子器件噪聲分析儀
噪聲測試：測量半導(dǎo)體分立器件和集成電路的低頻至超低頻噪聲參數(shù)，測試范圍和精度滿足國家標(biāo)準(zhǔn)、國家軍用標(biāo)準(zhǔn)以及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的相應(yīng)產(chǎn)品技術(shù)規(guī)范。
可靠性分析：根據(jù)噪聲頻譜分析和時間波形分析，檢測半導(dǎo)體分立器件和集成電路的潛在缺陷，對其可靠性進(jìn)行加嚴(yán)篩選和故障診斷，對壽命及環(huán)境應(yīng)力適應(yīng)性進(jìn)行預(yù)估。
分立器件：電壓基準(zhǔn)和調(diào)壓二極管，硅功率晶體管，GaAs MESFET&HEMT&HBT ，JFET，MOSFET，光電偶合器，VDMOS功率管，IGBT，特種器件等。
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2810ALCR
自動測量儀：
基本精度：±0.25%
測量參數(shù)：R、L、C、D和Q
測試頻率：100Hz或1kHz
測試電壓：275mV±10%
體積：440mmX250mmX43mm
2810A LCR
automatic Meter:
Basic Accuracy: ±0.25%
Specs Tested: R,L,C,D and Q
Test Frequency: 100Hz or 1kHZ
Test Voltage: 275mV±10%
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2811LCR自動測量儀：
基本精度：±0.25%
測量參數(shù)：L、C、R、D、Q及LCR限值分選
測試頻率：100Hz、1kHz、10kHz
測試電平：250mV±50mV
2811 LCR
Automatic Meter:
Basic Accuracy: ±0.25%
Specs Tested: R,L,C,D,Q and LCR Limitted Sorting
Test Frequency: 100Hz, 1kHz or 10kHz
Test Level: 250mv±50mV
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XC2812LCR自動測量儀：
基本精度：±0.1%
測量參數(shù)：L、C、R、D、Q及百分比偏差多檔次分選
測試頻率：100Hz、1kHz、10kHz
測試電平：250mV±50mV
2812 LCR Automatic
Meter:
Basic Accuracy: ±0.1%
specs Tested: L,C,R,D,Q & multi-step sorting of percentage deviation
Test Frequency: 100Hz,1kHz or 10kHz
Test Level: 250mV±50mV
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XC2813B 1MHz LCR自動測量儀：
測試頻率：1.000MHz±0.01%
基本精度：C：±0.1%，L、R、X、B、G均為±0.2%
測量范圍：L：0.001～99999μH
C：0.001～99999ρF
L：0.01Ω～999.9kΩ
XC2813B 1MHz
Automatic Meteer:
Measurement Frequency: 1.000MHz±0.01%
Basic Accuracy: C:±0.1%, L、R、X、B、G:±0.2%
Measurement Range: L:0.001～99999μH
C：0.001～99999ρF
L：0.01Ω～999.9kΩ
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XC2815精密元件分析儀：
測量參數(shù)：L、C、R、G、D、Q、Z、r相角θ
測量頻率：20Hz～300Hz,共有42個測試點
測試電平：10mV～5V,共131個測試點
基本精度：±0.05%
測試范圍：R：0.2Ω～12MΩ
C：20ρF～1800mF
L：3μH～200H
XC2815 Precision Component analyzer
Specs Tested: L,C,R,G,D,Q,Z,r,phase angle θ
Measurement frequency: 20Hz-300khz, total 42 frequency points
Test Level: 10mV～5V,
131 level points
Basic Accuracy: ±0.05%
Measurement Range: R:0.2Ω～12MΩ
C：20ρF～1800mF
L：3μH～200H
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XC2819LCR自動測量儀：
性能相當(dāng)于美國HP公司的HP4263
基本精度：0.1%
測量頻率：20Hz～300kHz
測試電平：10mV～5V
測量參數(shù)：Z、Y、R、G、X、B、L、C、D、Q及相角θ，變壓器匝數(shù)比，互感系數(shù)，電流電阻。
測試范圍：L：0.5nH～100kH
C:0.01pF～1F;
R:0.02mΩ～100mΩ
Q:0.1～9999;
D:0.0001～9.9999
Rdc:0.2mΩ～10kΩ
XC2819 LCR
Automatic Test Equipment
Features are corresponded to those of HP 4263
Basjc Accuracy: 0.1%
Measurement frequency: 20Hz-300kHz
Test Level: 10mV-5V
Specs Tested: Z、Y、R、G、X、B、L、C、D、Q phase angle θ, Nm/Ns, Lm, Rdc
Measurement Range: L：0.5nH～100kH
C:0.01pF～1F; R:0.02mΩ～100mΩ
Q:0.1～9999; D:0.0001～9.9999
Rdc:0.2mΩ～10kΩ
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XC2842電感自動測量儀
測量參數(shù)：電感量L和品質(zhì)因數(shù)Q
測量頻率：1kHz；10kHz；
測試電平：2.5Vrms±10%正玄波（空載）
測量時間：約220ms/次
基本測量誤差（溫度20℃～24℃）
L:±[1μH+0.3%(1+0.2mH/FL+FL/20H)L] (1+1/Q)±1個字
Q:±[0.01+0.3%Q(1+Q)]±1個字
極限預(yù)置范圍：（撥碼開關(guān)）
標(biāo)稱電感量：0.1μH——990H
品質(zhì)因數(shù)極值：0——99.9
顯示方式：直接顯示和百分比誤差顯示
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XC2853數(shù)字直流微電阻測量儀
測量范圍：1μΩ-199.99Ω;分五檔
分辯率：1μΩ
測量誤差：第1檔：±0.5%讀數(shù)值±4個字
第2檔～第5檔：±0.2%讀數(shù)值±4個字顯示：41/2位LED數(shù)字顯示
2853 Digital DC Mini
Resistance Meter
Measurement Range:1μΩ-199.99Ωin 5 steps
Resolution:1μΩ
Measurement Error:step1:±0.5%reading ±4digits
step2～step5:±0.2%reading±4digits
Display:41/2digital LED display
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2510數(shù)字交流低阻表：
測量范圍：10μΩ～1.999kΩ
測量頻率：1kHz±10%
測試電平：2.5V±10%
測量誤差：滿量程的±1.0%
2510 Digital
AC Low Resistance Meter
Measurement Range: 10μΩ～1.999kΩ
Measurement Frequency: 1kHz±10%
Test Level: 2.5V±10%
Measurement Error: ±1.0% of full scale
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XC2515數(shù)字兆歐表：
測量范圍：1MΩ～2000MΩ
1檔：1MΩ～100MΩ
2檔：100MΩ～2000MΩ
測量誤差：±4%讀數(shù)值±2個字
分辨率：0.1MΩ
測試電壓：1000V、500V、250V。
顯示：31/2位LED
XC2515 MW
Digital Meter
Measurement Range: 1MΩ～2000MΩ
Step1: 1MΩ～100MΩ
Step2: 100MΩ～2000MΩ
Measurement Error: ±4% reading ±2 digits
Resolution: 0.1MΩ
Test Voltage: 1000V,500V,250V
Display: 31/2 digital LED display
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1773（10A）偏流源是對電感進(jìn)行直流疊加特性測量進(jìn)使用的偏置電源
電流電圍：0～10A
電流指示精度：±2%讀數(shù)±1個字
電流穩(wěn)定度：5×10-4/分鐘
顯示：41/2位LED數(shù)字顯示。
1773(10A)Bias
Current Soruce is a Bias Power Source used to test DC Superposition Character
of Inductance.
Current Range: 0～10A
Current Accuracy: ±2% reading±1 digit
Current Stability:5×10-4/min
Disply: 41/2 digital LED.ss
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